北京科技大学半导体特性分析系统单一来源采购公示

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北京科技大学材料学院拟邀请Tektronix公司对其半导体特性分析系统进行单一来源采购，其理由如下：

 

1.      四探针法测量是半导体材料测量中常见的办法，对于做场效应晶体管测试，还另外需要一个输入输出门电压的测试端口。而据我们了解，现在可以提供5个直流I-V测试端的半导体特性分析系统只有Tektronix生产的4200-SCS以及Keysight生产的B1500A，所以不满足公开招标要求；

2.      由于4200-SCS与B1500A仪器性能差异明显，在我们的实验项目中，只有4200-SCS半导体特性分析系统提供的性能和精度可以满足要求；具体参数对比如下：

（a）上述两款设备在C-V测试及脉冲I-V测试模块扩展方面存在较大差异， 4200-SCS型的C-V模块频率带宽可达到10MHz，而B1500A只有5MHz。在脉冲I-V测试方面，4200-SCS型最大脉冲电压为±40V，而B1500A型只能达到±10V。 实验室部分材料特性测量需要在大于5MHz的频率下进行高频C-V测试，且未来项目脉冲电压需要加到20V，B1500A无法达到所需技术要求。

(b) 4200-SCS系统具有远端放大器，即4200-PA，该放大器不仅将最小电流量程拓展至1pA，分辨率提升至0.1fA，更可以将其安置在待测器件旁，最大程度缩短待测器件与测试系统间的距离，其内置的高阻电路有效抑制电流噪声，对于小电流测量有非常重要的意义，能明显提升小电流测量的准确度，而B1500A没有该类型设备匹配，无法达到相同效果。

3.      考虑到实验室已有两套不同配置的4200-SCS，我们对其使用方法和操作注意事项已经熟悉，对仪器特性也已经了解，使用状况一直非常理想，我们也基于这套系统后续开发了一些测试应用实验程序脚本，新购置的4200-SCS系统能够直接使用这些程序，可以极大的简化测试流程，提高实验效率。

所以，申请以单一来源采购方式购置1套4200-SCS半导体特性分析系统。

 

其他供应商如有异议，请于2015年11月24日前携书面材料与北京科技大学资产管理处联系，逾期将不再受理。

 

资产管理处联系方式：

地址：北京市海淀区学院路30号北京科技大学办公楼106

联系人：石老师   邮编：100083

联系电话：010-62332013