北京科技大学多功能离子减薄抛光一体机单一来源采购公示

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北京科技大学机械学院“多功能离子减薄抛光一体机”项目拟邀请Leica公司进行单一来源采购，其理由如下：

 

随着材料腐蚀研究逐渐向原位和微观尺度的发展，国家材料环境腐蚀平台项目为深入研究材料在大气、土壤、海水等环境中的腐蚀，需要通过高分辨透射电镜（TEM）结合SEM、EBSD以及扫描微探针（STM,AFM）技术等先进的微观表征技术研究材料腐蚀产物、钝化膜及微区电化学行为等前沿科学问题。其中，在上TEM观察或进行SEM，EBSD，ECSTM，ECAFM等实验测试前前，需将各种材料制备成较小的样品、而且针对目标微小区域（裂纹、点蚀、夹杂、第二相、钝化膜等）的观察和电化学测试，都要求实现针对微小区域的高精度、可观察、精确定位的制样技术，同时还需要实现样品表面的超高平整度和无损抛光制备。一般的试样制备过程十分繁琐，需要经过切割、铣削、研磨、冲钻、抛光、减薄、定位等一些列处理，工序非常复杂，而且传统的机械抛光和电解抛光等技术，往往很难达到在纳米尺度上观察研究材料腐蚀问题的测试精度要求。另外，这些传统的样品加工方法，无法保证能准确得到目标观察和测试区域。因此，为实现高精度准确制样，需要同时具备离子束减薄、离子束抛光及原位高分辨率观察等功能为一体的离子束制样设备。

结合开展本课题研究的上述实际需求，经调研了解到，与市场上其他离子束减薄仪或离子束抛光仪都具备单一的功能不同，徕卡RES102多功能离子减薄/抛光一体机同时集离子束减薄、离子束抛光、离子束截面切割、清洁以及衬度增强和高分辨观察等功能为一体，可同时针对TEM、SEM、AFM、EBSD、SECM等微区电化学试样的高精度加工制备，除了高能量离子研磨功能外，还可以用于低能量极温和的离子束研磨过程，可配合聚焦离子束（FIB）样品的精细加工处理。该设备无论是功能上还是各种精度参数方面都可以满足实验要求。经调研，目前市场上没有符合要求的同类产品，故申请单一来源采购。

其他供应商如有异议，请于2015年7月22日前携书面材料与北京科技大学资产管理处联系，逾期将不再受理。

 

资产管理处联系方式：

地址：北京市海淀区学院路30号北京科技大学办公楼106

联系人：石老师   邮编：100083

联系电话：010-62332013